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  • XM系列测试平台

    1. 高性能多站点架构
    2. 满足VI sources, PMUs, Digital IOs, Digitizers, Synthesizer,等高性能设备的需求.
    3. 具有低成本进行高速并行测试解决方案
    4. 成熟稳定的自动控制系统实现自动化测试.
    5. 提供一体化测试解决方案

  • 技术参数

    应用场景PMICs, MEMS, Power Drivers, Sensors, RF ICs 等.
    数字通道32~192ch
    V/I18位ADC,128~192ch, ADC per channel
    最大电流+/-10A
    最大电压+36/-16V
    AC24bit Digitizer,512K深度.最大4MSPS Sample rate.



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