1. 根据客户的测试要求，可灵活配置DR＆I/O数。
2. 低测试成本（COT）、低功耗和小的占地空间。
3. 存储/逻辑通用测试平台。
4. 兼容性较高的开发环境且丰富的调试工具。
1. 根据客户的测试要求，可灵活配置DR＆I/O数。
2. 低测试成本（COT）、低功耗和小的占地空间。
3. 存储/逻辑通用测试平台。
4. 兼容性较高的开发环境且丰富的调试工具。
| 应用场景 | 各种存储器芯片和MCU，包括NOR和NAND闪存,EEPROM以及其他嵌入式存储器。 |
| 工作频率 | 50MHz全引脚测试系统 |
| 通道数 | I/O — 2816 ch, DR — 2560 ch, DPS—256ch |
| 电源范围 | -1.0V to 4.0V (800mA) |
