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  • XQ2816 测试平台

    1. 根据客户的测试要求,可灵活配置DR&I/O数。
    2. 低测试成本(COT)、低功耗和小的占地空间。
    3. 存储/逻辑通用测试平台。
    4. 兼容性较高的开发环境且丰富的调试工具。

  • 技术参数

    应用场景各种存储器芯片和MCU,包括NOR和NAND闪存,EEPROM以及其他嵌入式存储器。
    工作频率50MHz全引脚测试系统
    通道数 I/O — 2816 ch, DR — 2560 ch, DPS—256ch
    电源范围-1.0V to 4.0V (800mA)



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